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產(chǎn)品介紹

ZG500系列高效太陽(yáng)能組件IV 測(cè)試儀，采用獨(dú)特的下打光方式。可測(cè)試各類(lèi)高效太陽(yáng)能組件。

1、采用A+A+A+級(jí)光源配置：不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均超過(guò)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

2、全光譜：光譜范圍滿足300-1200nm范圍，實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測(cè)試，測(cè)試準(zhǔn)確性大幅提高。

太陽(yáng)電池組件采用四線連接，以及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保了太陽(yáng)電池電流測(cè)量的準(zhǔn)確性。紅外無(wú)接觸式測(cè)溫，準(zhǔn)確測(cè)出組件溫度，確保了溫度修正的準(zhǔn)確性。

測(cè)試對(duì)象：適用于晶體硅太陽(yáng)能電池組件(PERC、 N型、IBC 以及HIT等)、薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。

性能特點(diǎn)

◆ A+A+A+標(biāo)準(zhǔn)：高于 IEC60904-9 標(biāo)準(zhǔn)

◆ 300-1200nm全光譜：更加真實(shí)反映組件在各波段響應(yīng)能力

◆ A+級(jí)光譜匹配：

◆ 電子負(fù)載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式

◆ 測(cè)量對(duì)象：PERC、 N型、HIT、IBC、 TOPCon、 CIGS、 普通晶硅等技術(shù)組件

技術(shù)指標(biāo)